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      • 臺式殘余奧氏體分析儀
      • 臺式殘余奧氏體分析儀
      產(chǎn)品名稱:

      臺式殘余奧氏體分析儀

      產(chǎn)品型號: AreX D
      更新時(shí)間: 2023-05-31
      品牌:
      生產(chǎn)地址:
      在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中,對殘余奧氏體含量的控制非常嚴(yán)格,測量其含量,對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因?yàn)榛瘜W(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的測量,而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量,故ASTM頒布E975標(biāo)準(zhǔn)方法:X射線法測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreX D 正是根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。
      • 詳細(xì)內(nèi)容

       

      儀器簡介

      在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中,對殘余奧氏體含量的控制非常嚴(yán)格,測量其含量,對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因?yàn)榛瘜W(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的測量,而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量,故ASTM頒布E975標(biāo)準(zhǔn)方法:X射線法測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreX D 正是根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。

      鋼構(gòu)件加工后的強(qiáng)度、耐久性和尺寸穩(wěn)定性影響構(gòu)件在使用中的可靠性。殘余奧氏體含量對這些性能至關(guān)重要。材料試驗(yàn)可以量化鋼構(gòu)件中殘留奧氏體的數(shù)量。x射線衍射被認(rèn)為是分析殘余奧氏體水平準(zhǔn)確的技術(shù),它能夠檢測少量的殘余奧氏體。我們使用自己的TEC 4000 x射線衍射系統(tǒng)和MAX便攜式解決方案與無心衍射儀,可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)環(huán)境中測量大型和不規(guī)則形狀的零件。


      臺式殘余奧氏體分析儀主要特點(diǎn)
      1、結(jié)構(gòu)緊湊,節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間,風(fēng)冷式X射線管;
      2、采用穩(wěn)定的微聚焦50瓦M(jìn)o靶射線管,Zr濾光片;
      3、配備高像素USB攝像頭,樣品定位方便、;
      4、具有用于X射線安全保護(hù)的連鎖裝置;
      5、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強(qiáng)度;
      6、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響;
      7、軟件界面設(shè)計(jì)簡潔友好,操作簡便;
      8、快速測量,測量時(shí)間小于3 分鐘。

       

       

      使用步驟

      1、準(zhǔn)備樣品:將待測材料制成標(biāo)準(zhǔn)試樣,并進(jìn)行研磨和拋光處理,確保表面平整光滑。
      2、安裝樣品:打開儀器蓋子,將樣品放置在樣品架上,確保樣品與探頭相切并貼合緊密。
      3、設(shè)置參數(shù):根據(jù)待測材料的類型和處理要求,設(shè)置好溫度、時(shí)間、冷卻速率等參數(shù)。
      4、運(yùn)行測試:按下啟動按鈕,儀器開始運(yùn)行測試程序,加熱樣品到規(guī)定溫度并保持一段時(shí)間后,以設(shè)定速率冷卻到室溫。
      5、獲取數(shù)據(jù):測試結(jié)束后,取出試樣并用金相顯微鏡觀察,在對應(yīng)的視場位置記錄下亮相和暗相區(qū)域的圖像和比例值。
      6、分析結(jié)果:利用計(jì)算機(jī)軟件對獲取的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析,得出樣品中殘余奧氏體的含量和形態(tài)等信息。
      7、清潔儀器:測試結(jié)束后,關(guān)掉電源并清潔儀器表面和內(nèi)部,確保儀器的正常使用壽命和準(zhǔn)確性。

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